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当NI中国成功举办第二届设计验证及测试论坛

发布时间:2021-09-09 18:03:29 阅读: 来源:渔坠厂家
当NI中国成功举办第二届设计验证及测试论坛

NI 中国成功举办第二届"设计、验证及测试论坛"

2005年5月--美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)于4月在上海国际会议中心成功主办第二届"设计、验证及测试论坛" (Design Validation Test Forum,即DVTF 2005),今年的主题为"测试紧跟设计的步伐"。本届论坛总共吸引了逾500位实验速度:50 100 150 200 250 300 500mm/min工程师、技术人员和院校教师参与此次盛会,其中97.1%的来宾表示"此次活动对他们的工作有所帮助",70%将会推荐他们的同事参加明年的"设计、验证及测试论坛"。在此次论坛期间,NI提出了若干驱动虚拟仪器技颗粒越大的木质纤维粉与聚乙烯等混合制成的复合材料在土中高温堆放时自然降解得越快;但农作物茎秆纤维制成的颗粒尺寸大小与生成材料降解速度没有明显关联术发展的主导商业技术,并着重强调了PCI Express 和FPGA这两项。

2004年第一届DVTF由NI和泰克电子(Tektronix)强强联手,延承其成功之势,除了泰克电子以外,今年NI还邀请了英特尔(Intel)、科梁科技(AEETEK)、Quanser、CyboSoft(博软科技)、泛华测控和聚星仪器等行业内外相关领域的多家优秀企业共同参与。

此次论坛分为热点技术专题与实时应用专题同时进行。NI主持了"利用新兴的PAC技术解决工业控制面临的挑战"、"用LabVIEW开发实时系统应用"等5场专题研讨会,Intel 以及其他公司也提供了"Embedded Market Solutions - PCI Express Technology"、"采用高速数字示波器进行 PCI Express分析和一致性测试"等讲座。此外,每家参展厂商都有各自的展示区域,可以与参观者面对面地交流。

前来参加会议的来宾们也表示本次论坛"务实求新,提供了新思想、新方路、新手段、新工艺","与各大厂商直接接触,了解试验机宣传重点到测试及控制领域最新的技术及发展趋势"。

基于两届活动的成功经验,NI会在明年继续举办第三届"设计、验证及测试论坛",并根据具体利用情况的不同有信心将其打造成测试测量行业内首屈一指的多供应商技术论坛。

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